半导体探测器

半导体探测器的工作原理:在半导体的PN结区载流子很少,当带电粒子射入结区后,损失能量,形成电子-空穴对,在外加电场的作用下,电子和空穴向两极漂移,于是在输出回路中形成电信号。

目前半导体探测器主要有两类,一类是PN结半导体探测器,它包括扩散结半导体探测器、面垒型半导体探测器和离子注入型半导体探测器。另一类是锂漂移探测器。目前我国的结型半导体探测器主要是金硅面垒探测器。

金硅面垒探测器适合于α射线及α能谱的测量。为了较少反向电流,锗锂漂移探测器要在低温(液氮)下保存和工作。

高纯锗探测器是利用高纯材料可以制作出耗尽层较厚的PN结探测器的原理制成的。它需要在底温下使用,但不需要在低温下保存。

硅(锗)锂漂移探测器与高纯锗探测器的测量性能相似,都可用于探测β射线和低能γ射线,适于测量γ射线的能谱。如扫描式全身计数器(WBC)使用高纯锗探测器。

半导体探测器的优点:

1) 能量分辨率高。适于谱仪测量系统;

2) 能量线性范围宽;

3) 金硅面垒探测器还具有脉冲上升时间快,体积小等优点。

主要缺点是:

1) 易产生辐照损伤;

2) 输出脉冲幅度小;

3) 对测量线路要求高;

4) 性能受温度影响等。


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