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探测器厚度选择
在设计、制作和使用硅微条探测器时需要考虑的一个重要原则问题是带电粒子在半导体探测器中的散射角度与探测器的厚度问题。
因为半导体的密度比较大, 带电粒子穿过探测器时,在探测器内部要经过多次散射。
• 如果带电粒子的能量不高, 探测器比较厚, 粒子在探测器内经过很多次散射后, 角度偏转比较大, 这将不利于粒子的径迹和顶点精确测量。
• 如果探测器太薄了, 虽然散射次数减少, 偏转角度小了, 但探测效率降低了，能量分辨也差了。
• 因此, 一定要根据被探测粒子的能量及实验对散射偏转角度的要求, 恰当的选择探测器厚度。
