表面污染测定

第1部分:β发射体( EMax>0.15MeV)和α发射体

Evaluation of surface contamination-Part 1: Beta-emitters(maximum beta energy greater than 0. 15 Mev)and alpha emitters

(ISO7503.1:1988,MOD)

前言

GB/T14056《表面污染测定》包括下列3个部分

—第1部分:发射体(Ex>0.15MeV)和a发射体;

—第2部分:氚表面污染;

—第3部分:同质异能跃迁和电子俘获发射体、低能发射体(E<0.15MeV)

本部分是GB/T14056的第1部分,本部分修改采用国际标准ISO7503.1:1988《表面污染测定—第1部分:B发射体(最大能量大于0.15MeV)和a发射体》。

本部分与IS07503.1:1988主要技术性差异如下:

—1sO7503.1:1988引用的其他国际标准中由相应的我国标准代替(见第2章);

—增加了我国标准中关于表面污染控制水平的规定(4.2.1)为便于使用,本部分做了下列修改:

—“1SO7503的本部分”改为“GB/T14056的本部分”;

—用小数点“,”代替作为小数点的逗号“,”;

—有的条款的段落增加了条的编号

本部分代替GB/T14056-1993《表面污染测定第1部分:P发射体(最大阝能量大于0.15MeV)和a发射体》,本部分与GB/T14056-1993相比主要变化如下:

—对原文中少数条款的表述进行了修改;

—恢复了GB/T14056-1993相对于1SO7503.1:1988删去的部分,包括4.2.3.6的注,5.6的注3、注4、注5,A.2的最后一款。

本部分的附录A为规范性附录。

本部分由中国核工业集团公司提出。

本部分由全国核能标准化技术委员会(SAC/TC58)归口。

本部分起草单位:核工业标准化研究所。

本部分主要起草人:高米力,张立波

本部分所代替标准的历次版本发布情况为:

GB/T14056-1993

表面污染测定

第1部分:β发射体( EB>0.15Mev)和a发射体

1范围

GB/T14056的本部分规定了测定发射体(最大P能量大于0.15MeV)和a发射体表面污染的方法。

本部分适用于以单位面积放射性活度表示的设备、设施、放射性物质的容器以及密封源的表面污染测定。

本部分仅限于符合下述条件的发射体和a发射体:

a)B粒子加单能电子的粒子产生率为每100次衰变发射出接近100个粒子;

b)a粒子的粒子产生率为每100次衰变发射出接近100个粒子。

B发射体详见附录A中表A.3

本部分不适用于皮肤和工作服的污染测定。

2规范性引用文件

下列文件中的条款通过GB/T14056的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。

GB/T5202辐射防护仪器a、B和a/B(B能量大于60keV)污染测量仪与监测仪(GB/T5202008,IEC60325:2002,DDT)；

GB/T12128用于校准表面污染监测仪的参考源发射体和a发射体(GB/T12128-1989neq ISo8769:1986)；

GB18871电离辐射防护与辐射源安全基本标准。

3术语和定义

下列术语和定义适用于GB/T14056的本部分。

3.1表面污染 surface contamination

表面具有放射性物质的污染

3.2固定的表面污染 fixed surface contamination；

在正常工作条件下以不可转移的方式附着在表面的污染；

注:“正常工作条件”是假设在该条件下,可能造成去除表面污染的机械作用的最大强度限定为人体与表面正常的非事故性的接触(有防护服和无防护服)或人直接操作的设备部件与表面之间以类似强度的非破坏性接触擦拭法的作用强度应该与这些类型的机械作用相符合。

GB/T14056.1-2008

3.3可去除的表面污染 removable surface contamination

在正常工作条件下可去除的或可转移的表面污染。

注:应该注意,由于水分、化学试剂等的影响,或者由于腐蚀或扩散的结果,在没有任何人为的作用下,固定污染可能变成可去除的污染或者相反。表面污染由于蒸发和挥发可能减少。

3.4单位面积放射性活度 activity per unit area

存在于表面的放射性核素的活度与该每平方厘米表示(Bq·cm-1)。

3.5表面污染的直接测量disurement ofcontaminati

采用污染测量仪或监测的表面放射性活度的测量,直接测量测定的是固定的与可去除的表面污染之和,但是可能受到来酸倒物件内部的或环境辐射的影响。

3.6表面污染的间接测irect measurement of surface contamination

用擦拭法对表面去除的放射性活度进行的测。

3.7擦拭法

用干的或湿的将拭料擦污染表面以取得可去除的放射性活度样品,随后满定转移到擦拭材料上的放射性活度。

3.8去除因子al factor

某一擦拭样品从表面去除的放射性活度与该次取样前可去除的表面污染的域射性活度之比

去除因子通过式（1）定义

 F=A_p/A_r                      …………(1)

式中:

A_p—通过擦拭取样所除去的放射性活度；

A_r—取样前污染表面上总的可去除放射性活度。

3.9源表面发射率 surface emssion rate of a source

q_2x

单位时间从源的前表面发出的大于给定能量、给定类型的粒子数

3.10源效率 efficiency of a source

单位时间内从源的表面或从源窗发射出大于给定能量的给定类型的粒子数(表面发射率)与单位时间内在源内(对一个薄源)或它的饱和层厚度(对一个厚源)内产生或释放的相同类型的粒子数之比。

3.11仪器效率 instrument efficienc

在给定几何条件下仪器的净计数率和源表面发射率之比。对于一个给定的仪器,仪器效率依赖于源的辐射能量。

4测定表面污染的方法

4.1总则

表面污染可以通过直接和间接测量方法来测定。直接测量是采用表面污染测量仪和监测仪进行的,这类仪表测定的是可去除的与固定的污染之和。间接测定通常是采用擦拭法进行的,用擦拭法只能测定可去除的表面污染。

测量表面污染的目的:

a)确定污染物的存在或扩散,并控制它由较高污染区向较低污染区或向非污染区的转移;

b)测定单位面积上的放射性活度,以证实是否超过表面污染控制水平(导出限值)。

满足上述目的两种测量方法的适用性和可靠性主要依赖于某些特定的情况,也就是:污染物的物理和化学形态;污染物在表面上的粘着性能(固定的或可去除的);以及对被测量表面是否可接近或是否存在干扰辐射场等。

当表面有非放射性液体或固态的沉淀物或有干扰辐射场存在时,直接测量可能是特别困难的或不可能的。特别是由于场所或相对位置的局限,使直接测量不容易接近污染表面,或者是干扰辐射场严重地影响污染监测仪的工作时,间接方法一般更为合适。但是,间接方法不能测量固定污染,又由于去除因子通常有较大的不确定性,故间接方法一般更多地用于可去除污染的测量。

由于直接方法和间接方法对测量表面污染均存在固有的缺陷,所以在很多情况下,两种方法都采用,以保证测出结果最好地满足测量的目的。因为仪器效率随能量而变化,所以在测定具有各种能量的P污染时应该特别小心(也见第5章)

对于显示表面放射性活度的仪器尤其应注意。

4.2表面污染的直接测量

4.2.1对测量仪器的要求

测量仪器的特性和性能应符合于GB/T5202的要求

仪器应能测量GB18871中规定的表面污染控制水平以下的放射性活度,污染测量的结果将与该限值比较。

注:用于表面污染直接测量的仪器通常具有20cm2~200cm2的灵敏窗,正常本底条件下,可测表面污染水平,对a发射体低于0.04Bq·cm-,对p发射体低于0.4Bq·cm-2,探测器的适用性,不但由仪器效率决定,而且还由灵敏窗的大小而定。对于大面积污染的测量,应采用有较大灵敏窗的探测器

4.2.2探测程序

4.2.2.1在探测器灵敏窗和待检查表面避免接触的情况下,将探测器在表面上方慢慢地移动,并监听声频的变化。音响指示是瞬间的并与所采用的响应时间无关。对于数字显示或表头显示的仪表,应密切观察其数字及表头指针的变化。一旦探测到污染区,应把探测器放在这个区域上方,在足够长的时间内保持位置不变,以便进一步确认。

4.2.2.2探测器和被测表面之间的距离应在可行的情况下尽可能的小。为此可采用定位架。