散射、计数损失和随机性影响图像质量和定量精度。

散射性和随机性都会引入无效的事件。散射分数定义为当随机事件巧合可以忽略时（即在低计数率下），散射巧合与散射和真实巧合之和之比。这可以随着断层扫描仪设计的变化而变化(例如，它的能量分辨率、二维与三维模式和CTW长度)。一个较小的散射分数是可取的。

计数率性能反映了断层扫描仪准确测量高放射性源和低放射性源的能力。这一点特别重要，因为临床研究经常以放射性水平进行，而系统死亡时间造成的计数损失不可忽略，而随机巧合率随着总单个事件计数率的增加而增加。

噪声等效计数(NEC)率用于表示断层扫描计数率性能作为放射性浓度的函数；峰值NEC值和相应的放射性浓度可作为指导，以确定在特定临床环境中给患者使用的最佳放射性。NEC通过考虑、假设泊松统计量、真实事件、分散事件和随机事件对总符合率的贡献来估计扫描仪的有用计数率。

该测试基于NEMANU2-2007散射分数、计数损失和随机测量测试，该测试结合了基于Watson等人描述的具有固有背景计数的扫描仪的适应性。

本文描述了两种分析和报告数据的方法：

（1）首选的方法，方法A，它需要通过延迟事件窗口或基于单个探测器事件率的计算来测量随机巧合。这种方法允许估计散点分数作为计数率的函数。它是具有固有背景事件计数的扫描器所需的方法，因为它不能实现随机事件与小于1.0%的真实事件的比率。

（2）另一种方法，方法B，用于无法测量随机巧合率的系统。